SC-XRD(Single Crystal XRD) 예약 안내
- 이용안내
- 연구 장비 예약
| 연구장비명(영문) | SC-XRD(Single Crystal XRD) |
|---|---|
| 연구장비명(한글) | 단결정 X선 회절분석기 |
| 모델명 | SMART BREEZE |
| 제조회사 | Bruker-AXS |
| 도입시기 | 2011년 |
| 보유학과 | 약학과 |
| 장비 책임자 | 오경수 교수 |
| 담당 | 김훈영 교수 / 02-820-5656 / |
| 장비위치 | 102관 103호 |
| 예약가능여부 | 예약가능 |
담당자 메모
공지사항
1. 이전 설치 완료되어 분석 가능한 상태입니다.
2. 장비 사용과 관련해서는 김훈영 교수/02-820-5656 으로 문의 후 예약하기 바랍니다.
3. 샘플 마운팅 및 구조 분석은 직접하셔야 합니다. 업체 측 기기교육을 이수하고 해당장비 사용능력이 검증된 후, 장비사용이 가능합니다.
1. 이전 설치 완료되어 분석 가능한 상태입니다.
2. 장비 사용과 관련해서는 김훈영 교수/02-820-5656 으로 문의 후 예약하기 바랍니다.
3. 샘플 마운팅 및 구조 분석은 직접하셔야 합니다. 업체 측 기기교육을 이수하고 해당장비 사용능력이 검증된 후, 장비사용이 가능합니다.
기기소개
용도 및 원리
1. 단결정으로 구성된 반도체, 고분자화합물, 무기재료, 광물 등의 구조를 X-RAY를 이용하여 원자 크기 척도 내에서 삼차원적 구조를 규명
2. 실온에서 불안정한 결정구조를 가진 물질에 대하여 저온으로 냉각된 상태에서 결정도 등을 측정
규격 및 사양
1. Continuous output power : Max. 3000W 2. High-voltage : 10 to 60Kv 3. maximum settings : 50Kvp, 30 mA 4. Targets : Mo 5. Detector : CCD Camera
1. 단결정으로 구성된 반도체, 고분자화합물, 무기재료, 광물 등의 구조를 X-RAY를 이용하여 원자 크기 척도 내에서 삼차원적 구조를 규명
2. 실온에서 불안정한 결정구조를 가진 물질에 대하여 저온으로 냉각된 상태에서 결정도 등을 측정
규격 및 사양
1. Continuous output power : Max. 3000W 2. High-voltage : 10 to 60Kv 3. maximum settings : 50Kvp, 30 mA 4. Targets : Mo 5. Detector : CCD Camera