Atomic Force Microscopy 예약 안내
- 이용안내
- 연구 장비 예약
| 연구장비명(영문) | Atomic Force Microscopy |
|---|---|
| 연구장비명(한글) | 원자현미경 |
| 모델명 | NX-10 Complete AFM |
| 제조회사 | 파크시스템스 |
| 도입시기 | 2012. 02. 28 |
| 보유학과 | 융합공학부 |
| 장비 책임자 | 왕동환 교수 |
| 담당 | 이희성 / 01071298357 / heeseong9911@cau.ac.kr |
| 장비위치 | 202동 407호 |
| 예약가능여부 | 예약가능 |
담당자 메모
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[중요] 기기사용 수칙을 지키지 않을 경우에는 사용이 제제될 수 있습니다.
==================================================================
[필독] 기기사용 수칙
1. AFM 첫 사용자(교내)의 경우 사용을 희망하신다면 담당자에게(heeseong9911@cau.ac.kr) 먼저 문의 바랍니다.
2. 당일 예약 사용은 불가합니다.
3. AFM 사용 전 담당자에게 먼저 연락 후 202관 306호에서 키를 수령해가시기 바랍니다.
(연락처 : 010-7129-8357)
4. AFM 사용자는 반드시 장비사(park systems)의 교육을 수강 한 후 사용하여야 합니다.
* 이용자 교육은 제조회사 홈페이지(https://www.parksystems.com/index.php/kr/) 중 NX-10 관련 영상과 제조회사 (ParkSystems)에서 실시하는 교육을 받고 오셔야 됩니다.
* 이용자 교육 미이수시 사용이 불가합니다.
* 교육 영상
How AFM works: https://www.youtube.com/playlist?list=PLH4cAUjlEqR0LPdWN_8zMvf_thJCe6SmA
AFM A to Z - 원자현미경 기본 강의: https://www.youtube.com/playlist?list=PLH4cAUjlEqR0LPdWN_8zMvf_thJCe6SmA
Non-contact mode: https://www.youtube.com/playlist?list=PLH4cAUjlEqR0vxYvDnEvi1xyjZjGR6KzZ
반드시 사용해야 할 경우 담당자의 동의 하에 교육을 수강한 연구원님이 동반해 사용하시기 바랍니다.
다른 연구원님에게 교육을 이수한 후 사용하는 것은 불가합니다.
이 항목을 준수하지 않을 경우 해당 연구원님이 소속된 연구실 전체의 사용이 불가합니다.
이는 잘못된 사용으로 야기된 잦은 고장으로 인해 공동기기원과 함께 설정한 정책이며, 해당 내용을 반드시 준수하여야 함을 인지해주시면 감사드리겠습니다.
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기기 사용 중 XY scanner 설정은 50um로 고정하고 사용하셔야 하며,
측정 시 Forward, Backward 두 라인을 일치시키기 위해선 parameter 조절(scan rate, set point, z gain)이 반드시 필요하다는 점을 부탁드립니다.
또한, NCM Sweep 시 기존보다 진폭은 높게 set point는 낮게 설정하여 측정하시길 권장드립니다.
(추천 값 - 진폭 :30~40nm, setpoint :10nm)
과도한 조정으로 Cantilever와 카메라가 접촉하여 PSPD lock 상태에 돌입할 수 있습니다. PSPD lock의 경우, Lazer intensity 를 3.0 이상으로 설정하면 잠금이 해제되니 이 점 참고 부탁드립니다.
Conductive AFM(c-AFM) 사용 등 추가 모듈 장착이 필요한 경우, 담당자에게 사전에 말씀해주시기 바랍니다. 이 경우에 사용자는 업체로부터 해당 기능의 사용법 교육을 수강하신 후 사용하시기 바랍니다.
[중요] 기기사용 수칙을 지키지 않을 경우에는 사용이 제제될 수 있습니다.
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[필독] 기기사용 수칙
1. AFM 첫 사용자(교내)의 경우 사용을 희망하신다면 담당자에게(heeseong9911@cau.ac.kr) 먼저 문의 바랍니다.
2. 당일 예약 사용은 불가합니다.
3. AFM 사용 전 담당자에게 먼저 연락 후 202관 306호에서 키를 수령해가시기 바랍니다.
(연락처 : 010-7129-8357)
4. AFM 사용자는 반드시 장비사(park systems)의 교육을 수강 한 후 사용하여야 합니다.
* 이용자 교육은 제조회사 홈페이지(https://www.parksystems.com/index.php/kr/) 중 NX-10 관련 영상과 제조회사 (ParkSystems)에서 실시하는 교육을 받고 오셔야 됩니다.
* 이용자 교육 미이수시 사용이 불가합니다.
* 교육 영상
How AFM works: https://www.youtube.com/playlist?list=PLH4cAUjlEqR0LPdWN_8zMvf_thJCe6SmA
AFM A to Z - 원자현미경 기본 강의: https://www.youtube.com/playlist?list=PLH4cAUjlEqR0LPdWN_8zMvf_thJCe6SmA
Non-contact mode: https://www.youtube.com/playlist?list=PLH4cAUjlEqR0vxYvDnEvi1xyjZjGR6KzZ
반드시 사용해야 할 경우 담당자의 동의 하에 교육을 수강한 연구원님이 동반해 사용하시기 바랍니다.
다른 연구원님에게 교육을 이수한 후 사용하는 것은 불가합니다.
이 항목을 준수하지 않을 경우 해당 연구원님이 소속된 연구실 전체의 사용이 불가합니다.
이는 잘못된 사용으로 야기된 잦은 고장으로 인해 공동기기원과 함께 설정한 정책이며, 해당 내용을 반드시 준수하여야 함을 인지해주시면 감사드리겠습니다.
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기기 사용 중 XY scanner 설정은 50um로 고정하고 사용하셔야 하며,
측정 시 Forward, Backward 두 라인을 일치시키기 위해선 parameter 조절(scan rate, set point, z gain)이 반드시 필요하다는 점을 부탁드립니다.
또한, NCM Sweep 시 기존보다 진폭은 높게 set point는 낮게 설정하여 측정하시길 권장드립니다.
(추천 값 - 진폭 :30~40nm, setpoint :10nm)
과도한 조정으로 Cantilever와 카메라가 접촉하여 PSPD lock 상태에 돌입할 수 있습니다. PSPD lock의 경우, Lazer intensity 를 3.0 이상으로 설정하면 잠금이 해제되니 이 점 참고 부탁드립니다.
Conductive AFM(c-AFM) 사용 등 추가 모듈 장착이 필요한 경우, 담당자에게 사전에 말씀해주시기 바랍니다. 이 경우에 사용자는 업체로부터 해당 기능의 사용법 교육을 수강하신 후 사용하시기 바랍니다.
기기소개
용도 및 원리현재 보유중인 AFM은 가장 보편적인 원자현미경으로 마이크로머시닝(Micromachining)으로 제작된 캔틸레버라고 불리는 작은 막대 끝부분에 달려있는 탐침을 시료표면에 접근시켰을 때 탐침 끝의 원자와 시료표면의 원자 사이에 서로간의 간격에 따라생기는 원자간의 상호 작용력(인력과 척력)을 측정함으로써 시료표면의 3차원적 형상을 알아내는 장비이다.