연구 장비 안내

연구 장비 예약

Atomic Force Microscopy - 융합공학부
제조사 파크시스템스
도입시기 2012. 02. 28
보유학과 융합공학부
장비 담당자 heeseong9911@cau.ac.kr
장비위치 202동 407호
예약가능여부 예약가능
공지사항
  • 기기소개 2026.10.22
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    · 용도 및 원리
    현재 보유중인 AFM은 가장 보편적인 원자현미경으로 마이크로머시닝(Micromachining)으로 제작된 캔틸레버라고 불리는 작은 막대 끝부분에 달려있는 탐침을 시료표면에 접근시켰을 때 탐침 끝의 원자와 시료표면의 원자 사이에 서로간의 간격에 따라생기는 원자간의 상호 작용력(인력과 척력)을 측정함으로써 시료표면의 3차원적 형상을 알아내는 장비이다.
  • [공지] AFM 사용 공지 2025.05.08
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    안녕하세요. AFM 기기 관리자입니다.
    최근 AFM 기기의 고장이 자주 발생하여, AFM 사용 수칙에 대해 공지드리고자 연락 드립니다.

    1. AFM 사용자는 반드시 외부 전문가 주관의 사용법 교육을 수강하여야 합니다.
    2. 그렇지 않은 사용자가 사용할 경우, 사용이 불가한 점 안내 드립니다.
    3. 반드시 사용해야 할 경우에는 AFM 사용법 교육을 수강한 연구원님이 동반하여 기기를 사용하시기 바랍니다.
    4. 상기 항목을 제대로 준수하지 않을 경우 해당 연구원님이 소속된 연구실 전체의 사용이 불가함을 공지 드립니다.

    잘못된 사용으로 야기된 고장의 잦은 발생으로 인하여 공동기기원과 함께 설정한 정책이며, 해당 내용을 반드시 준수하여야 함을 인지해주시면 감사드리겠습니다.

    더불어, 최근 기기 안전 관련 문제로 인해 AFM 기기실 내에 IP CAM 을 설치하였습니다. 기기의 안전을 위한 조치이므로, 해당 내용 양해해주시면 대단히 감사드리겠습니다.

    AFM을 사용한 경험이 없는 연구원분께서는 반드시 교육 수강자와 대동하여 사용해주시고, 불가한 경우 반드시 교육을 수강해주시기를 간곡히 부탁드립니다.

    감사합니다.
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담당자 메모

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[중요] 기기사용 수칙을 지키지 않을 경우에는 사용이 제제될 수 있습니다.

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[필독] 기기사용 수칙

1. AFM 첫 사용자(교내)의 경우 사용을 희망하신다면 담당자에게(heeseong9911@cau.ac.kr) 먼저 문의 바랍니다.

2. 당일 예약 사용은 불가합니다.

3. AFM 사용 전 담당자에게 먼저 연락 후 202관 306호에서 키를 수령해가시기 바랍니다.
(연락처 : 010-7129-8357)

4. AFM 사용자는 반드시 장비사(park systems)의 교육을 수강 한 후 사용하여야 합니다.

* 이용자 교육은 제조회사 홈페이지(www.parksystems.com/index.php/kr/) 중 NX-10 관련 영상과 제조회사 (ParkSystems)에서 실시하는 교육을 받고 오셔야 됩니다.
* 이용자 교육 미이수시 사용이 불가합니다.

* 교육 영상

How AFM works: www.youtube.com/playlist?list=PLH4cAUjlEqR0LPdWN_8zMvf_thJCe6SmA
AFM A to Z - 원자현미경 기본 강의: www.youtube.com/playlist?list=PLH4cAUjlEqR0LPdWN_8zMvf_thJCe6SmA
Non-contact mode: www.youtube.com/playlist?list=PLH4cAUjlEqR0vxYvDnEvi1xyjZjGR6KzZ

반드시 사용해야 할 경우 담당자의 동의 하에 교육을 수강한 연구원님이 동반해 사용하시기 바랍니다.

다른 연구원님에게 교육을 이수한 후 사용하는 것은 불가합니다.

이 항목을 준수하지 않을 경우 해당 연구원님이 소속된 연구실 전체의 사용이 불가합니다.

이는 잘못된 사용으로 야기된 잦은 고장으로 인해 공동기기원과 함께 설정한 정책이며, 해당 내용을 반드시 준수하여야 함을 인지해주시면 감사드리겠습니다.

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기기 사용 중 XY scanner 설정은 50um로 고정하고 사용하셔야 하며,

측정 시 Forward, Backward 두 라인을 일치시키기 위해선 parameter 조절(scan rate, set point, z gain)이 반드시 필요하다는 점을 부탁드립니다.

또한, NCM Sweep 시 기존보다 진폭은 높게 set point는 낮게 설정하여 측정하시길 권장드립니다.
(추천 값 - 진폭 :30~40nm, setpoint :10nm)

과도한 조정으로 Cantilever와 카메라가 접촉하여 PSPD lock 상태에 돌입할 수 있습니다. PSPD lock의 경우, Lazer intensity 를 3.0 이상으로 설정하면 잠금이 해제되니 이 점 참고 부탁드립니다.

Conductive AFM(c-AFM) 사용 등 추가 모듈 장착이 필요한 경우, 담당자에게 사전에 말씀해주시기 바랍니다. 이 경우에 사용자는 업체로부터 해당 기능의 사용법 교육을 수강하신 후 사용하시기 바랍니다.